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                        VG9000輝光放電質譜儀(GDMS) 2015-02-05     總瀏覽:12976

                        輝光放電質譜法作為一種固體樣品直接分析技術 ,廣泛應用于金屬、半導體等材料的痕量和超痕量雜質分析。隨著制樣方法和離子源裝置的改進 ,GDMS同樣也能很好地應用于玻璃、陶瓷、氧化物粉末等非導體材料的成分分析。本分析儀器的特點:一、檢測范圍廣,檢測限從Sub-ppm-ppb,可直接分析各種形態固態樣品,避免了可能出現的制樣污染。并且可以測定元素周期表中所有元素,包括C、N、O等輕元素;二、分析靈敏度高,檢測極限低,對大多數金屬元素的檢測極限可低至0.1-0.001ng/g;是高純材料雜質成分分析的有效方法。



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